泛胜DDZ玉米抗倒伏测定仪通过配置的刺针、拉钩、压板等附件来测量玉米的茎秆强度及抗倒伏能力。

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泛胜FS-2000叶面积指数仪用于各种高度植物冠层的研究，利用鱼眼镜头和CCD图像传感器获取植物冠层图像，通过专用分析软件，获得植物冠层的相关指标和参数。

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DDY微电脑茎秆强度仪采用针刺、压碎、折断三种不同探头分别测量茎秆穿刺，压碎、和弯曲强度，茎秆断裂或者屈服瞬间产生的最大力，即茎秆的强度。

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DDZ泛胜玉米抗倒伏测定仪通过配置的刺针、拉钩、压板等附件来测量玉米的茎秆强度及抗倒伏能力。

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LS-A玉米叶绿素仪可以快速、准确、方便的测量出活体作物叶片的叶绿素含量，不需要采摘叶片，不影响作物正常生长。

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泛胜YHD系列叶片厚度仪是一种专业测量叶片厚度的工具，可以精准的测量出叶片的厚度。

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FS-3080H泛胜全自动便携式光合仪能测定光合速率、呼吸强度、蒸腾速率、气孔导度和胞间CO2浓度，同时还能记录环境中光强、温度、湿度等参数，操作十分简单，用叶室夹一片叶子，在操作面板上按一下键，在几分钟内就能把上述参数测完并储存好。

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主机主要技术指标：1 内置四个独立的高精度非分散的红外线CO2/H2O分析仪，分别测定参比和分析气路中CO2和H2O气浓度，分析仪可用于开放式或密闭式测定。CIRAS-3光源：超强红蓝绿白光源红光波峰625nm+/-5nm，半峰宽15nm绿光波峰528nm+/-8nm  半峰宽40nm蓝光波峰475nm+/-10

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YLS-A高精度玉米叶绿素仪可以快速、准确、方便的测量出活体作物叶片的叶绿素含量，不需要采摘叶片，不影响作物正常生长。

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LAM-D拍照式叶面积仪由图像采集设备和图像处理软件组成，采用本公司新开发的图像识别软件，根据叶片轮廓特征提取、图形实物转换、边缘检测等技术，能够形象并快速得到所测叶片面积、周长、虫洞数量等参数。

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